X – Işınları Kırınım (XRD) Cihazı, X-Ray Diffraction (XRD)
X-Işınları Kırınımı, genel anlamıyla maddenin iç yapısının X-Işınları ile incelenmesinde, kristal yapı tayininde, tane büyüklüğünün ölçülmesinde, polikristallerin kalitatif ve kantitatif analizlerinde, günümüzde yaygın olarak kullanılan bir metottur. Merkezimiz X-Işınları kırınımı çalışmalarını ağırlıklı
olarak, özellikle kil mineralojisi, seramik hammaddeleri ve sentetik mineralleri üzerinde yoğunlaştırmıştır. Rietveld metoduna göre çalışan farklı programlar yardımıyla 12 bileşenli polikristal yapılara kadar kantitatif analizi gerçekleştirmek mümkündür.
Uygulama Alanları
- Malzeme Bilimi ve Mühendisliği (geleneksel seramikler, ileri teknoloji seramikler, refrakterler, camsı malzemeler, amorfik katı malzemeler),
- Metalurji Mühendisliği (metal ve alaşımları, otomotiv),
- Farklı kalınlıklardaki katı ve toz malzemelerin faz kalitatif ve kantitatif analizleri,
- Anton-Paar yüksek sıcaklık aparatı ile 25-1400 °C’ye kadar yüksek sıcaklık kalitatif faz analizleri (HT-XRD),
- Kristal boyutu, atom pozisyonları, latis parametreleri, kristal yönlenmesi, kristal hata yapıları, latis deformasyonu tayininde,
- Jeolojik örnekler (kil, kayaç, maden, doğal ve sentetik mineral analizleri),
- Klinik örnekler (böbrek taşı analizlerinde yapı çözümlenmesi),
- İnce film analizi,
- Katı hal reaksiyonları, sinterleme, amorflaşma,
- Kablo sanayisi,
- Arkeoloji (arkeoseramik örneklerinin mineral faz karakterizasyonunda),
- Biyomalzemeler.
Örnek Özellikleri:
Toz : En az 0,1 mg (zero background ile), en az 100 mg (normal çekim ve yüksek sıcaklık XRD için),
Katı : 2 x1 cm veya daha küçük boyutlarda.
Cihaz Marka / Model: PANalytical EMPYREAN
